詳細(xì)分析臺(tái)式X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀的構(gòu)成和使用優(yōu)勢(shì)

　　臺(tái)式X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀采用X射線(xiàn)單色器設(shè)計(jì)，無(wú)需同步輻射光源，在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中實(shí)現(xiàn)X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測(cè)量和分析，提供XAFS和XES兩種測(cè)量模式，并輕松相互切換。以*的靈敏度和光源質(zhì)量，實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的測(cè)定、定量和價(jià)態(tài)分析等。

 

　　構(gòu)成：

　　臺(tái)式X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：

　　1、入射狹縫：在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。

　　2、準(zhǔn)直元件：使狹縫發(fā)出的光線(xiàn)變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

　　3、色散元件：通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。

　　4、聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。

　　5、探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類(lèi)的光探測(cè)器陣列。

 

　　產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

　　1、無(wú)需同步輻射光源；

　　2、科研級(jí)別譜圖效果；

　　3、臺(tái)式設(shè)計(jì)，實(shí)驗(yàn)室內(nèi)使用；

　　4、可外接儀器設(shè)備，控制樣品條件；

　　5、可實(shí)現(xiàn)多個(gè)樣品或多種條件測(cè)試；

　　6、操作便捷、維護(hù)成本低。